電化學(xué)顯微鏡特點(diǎn)及應(yīng)用分析

    電化學(xué)顯微鏡為表面科學(xué)測(cè)量提供了一個(gè)新的途徑，開爾文探針是一種無接觸，無破壞性的儀器，可以用于測(cè)量導(dǎo)電的、半導(dǎo)電的，或涂覆的材料與試樣探針之間的功函差。 這種技術(shù)是用一個(gè)振動(dòng)電容探針來工作的，通過調(diào)節(jié)一個(gè)外加的前級(jí)電壓可以測(cè)量出樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。 功函和表面狀況有直接關(guān)系的理論的完善使SKP成為一種很有價(jià)值的儀器，它能在潮濕甚至氣態(tài)環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量的能力使原先不可能的研究變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)。 
 

電化學(xué)顯微鏡主要特點(diǎn)：

    SECM是一個(gè)精密的掃描微電極系統(tǒng)，具有*空間分辨率。它在溶液中可檢測(cè)電流或施加電流于微電極與樣品之間。SECM與EC-STM、EC-AFM具有互補(bǔ)性，EC-STM和EC-AFM是對(duì)溶液中樣品表面進(jìn)行原子級(jí)和納米級(jí)成像分析，EC-STM和EC-AFM更多地展現(xiàn)了電化學(xué)過程的表面物理圖像。而SECM則用于檢測(cè)、分析或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。SECM具有高分辨率、易操作、測(cè)試樣品更接近實(shí)際應(yīng)用情況等特點(diǎn)，適用于分析研究各種實(shí)時(shí)和原位的電化學(xué)反應(yīng)過程。EC-STM和EC-AFM強(qiáng)調(diào)的是結(jié)果，而SECM注重的是過程和結(jié)果。

電化學(xué)顯微鏡的應(yīng)用：
    SECM有很多潛在的應(yīng)用，目前主要用于電沉積和腐蝕科學(xué)中的表面反應(yīng)過程基礎(chǔ)研究、酶穩(wěn)定性研究、生物大分子的電化學(xué)反應(yīng)特性以及微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）等領(lǐng)域。
 

• 不銹鋼和鋁等材料的點(diǎn)蝕檢測(cè)、成長(zhǎng)過程在線監(jiān)測(cè)等；
• 有機(jī)和金屬涂層缺陷和完整性研究；
• 金屬/有機(jī)涂層界面的腐蝕的機(jī)制與檢測(cè)；
• 有機(jī)涂層的剝離和脫落機(jī)制；
• 鈍化處理的不銹鋼焊接熱影響區(qū)的電位分布；
• 干濕循環(huán)的碳鋼和不銹鋼的陰極區(qū)和陽(yáng)極區(qū)的分布行為；
• 薄液層下氧還原反應(yīng)和金屬的腐蝕過程的特征；
• 模擬不同大氣環(huán)境的腐蝕電位在線監(jiān)測(cè)；
• 鋁合金等材料在大氣環(huán)境中局部腐蝕敏感性；
• 鋁合金的絲狀腐蝕（filiform corrosion）；
• 硅烷L(zhǎng)-B膜修飾金屬表面的結(jié)構(gòu)和穩(wěn)定性；
• 鋅-鐵偶合金屬界面區(qū)的電位分布特征；
• 磷化處理鋅表面的碳微粒污染檢測(cè)；
• 檢測(cè)微小金屬表面的應(yīng)力分布和應(yīng)力腐蝕開裂；
• 檢測(cè)金屬和半導(dǎo)體材料微小區(qū)域的表面清潔度，缺陷，損傷和均勻程度；
• 研究和評(píng)價(jià)氣相緩蝕劑性能；
• 電化學(xué)傳感器；