介電頻譜測(cè)試儀的應(yīng)用領(lǐng)域

　　介電頻譜測(cè)試儀適用于各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測(cè)定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。介電頻譜測(cè)試儀用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究科研機(jī)關(guān)、高校、工廠等地方。介電頻譜測(cè)試儀是在特殊環(huán)境下，測(cè)量介質(zhì)在該環(huán)境溫度下的介電常數(shù)。

　　介電頻譜測(cè)試儀主要用途：

　　無源元件：介電頻譜測(cè)試儀適用于電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。

　　半導(dǎo)體元件：介電頻譜測(cè)試儀適用于變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析。

　　其它元件：介電頻譜測(cè)試儀適用于印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估。

　　介質(zhì)材料：介電頻譜測(cè)試儀適用于塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估。

　　磁性材料：介電頻譜測(cè)試儀適用于鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估。

　　半導(dǎo)體材料：介電頻譜測(cè)試儀適用于半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性。

　　液晶材料：介電頻譜測(cè)試儀適用于液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。